MEB STEM Ultra-Haute-Résolution (UHR)
- Instrument : MEB équipé d’un détecteur STEM
- Type d’appareil : Microscope électronique à Balayage (MEB) avec une émission électronique par effet de champ (FEG) équipé d’un détecteur à transmission (STEM) et un spectromètre à dispersion d’énergie (EDS) de type SDD (Silicon Drift Detector).
- Marque et modèle : MEB/STEM Hitachi SU8600 couplé à un EDS X-Max 80 mm² de chez Oxford.
- Responsable technique : Mathilde Ropiquet
- Responsable scientifique : Aurélie Verney-Carron
- Principe : Cet instrument permet d’effectuer une caractérisation structurale et morphologique à l’échelle micro et sub-micrométrique (en mode STEM) en produisant des images de haute résolution (résolution de l’ordre du nm) de la surface d’un échantillon. L’observation en MEB/STEM est basée sur la production des électrons secondaires (pour l’observation de la topographie), rétrodiffusés (pour l’imagerie avec un contraste chimique) et transmis (pour l’imagerie à haute résolution) qui résultent des interactions entre le faisceau électronique et le matériau étudié. Le couplage du MEB avec un détecteur de rayons X EDS permet, non seulement, d’effectuer une caractérisation à la fois microstructurale et élémentaire mais également d’analyser de façon quantitative les éléments présents au sein de l’échantillon.
- Objectifs : Caractérisation structurale et chimique des échantillons massifs et non massifs-type particules (particules de suie, aérosols, poudres issues des roches naturelles, résidus d’incendies…). Etude de l’altération chimique et changement structurale des matériaux en contact avec l’environnement dans le cadre de l’identification des impacts de l’activité humaine sur la modification de la composition de l'atmosphère. - Echantillons traités : échantillon solides massifs (> 10-20 µm) et non-massifs (taille inférieure au volume d’interaction électrons-matière). Particules déposées sur un filtre ou substrat composé d’un matériau conducteur (ex : Al ou Cu). Particules et films minces déposés sur des grilles (mode STEM). Les échantillons que nous analysons de manière régulière sont des particules de suie, des aérosols atmosphériques, des poudres issues des roches naturelles, des résidus d’incendies, des matériaux altérés…
Quelques exemples
Suies sur des fibres de coton
Caractérisation d’agrégats de particules minérales
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