Spectromètre de Fluorescence X

- Instrument : Spectromètre de Fluorescence X de la Plateforme PRAMMICS

 

- Type d’appareil : Spectromètre de Fluorescence X dispersif en longueur d’onde intégrant un canal dispersif en énergie

 

- Marque et modèle : ZETIUM 4kW avec canal supplémentaire EDCore, MalvernPanalytical

 

- Responsable technique : Servanne CHEVAILLIER


- Correspondant scientifique : Paola FORMENTI

 

- Principe :
La spectrométrie de fluorescence X (SFX) est une méthode d’analyse élémentaire basée sur l’excitation des couches électroniques internes, conduisant à l’apparition de lacunes électroniques. Ces lacunes provoquent un réarrangement d’électrons produisant une émission de fluorescence X dont la longueur d’onde est caractéristique de la couche excitée d’un élément donnée et l’intensité d’émission est proportionnelle à la quantité de cet élément. Cette méthode, rapide et non destructive, permet de doser les éléments de Be à Ur (pratiquement Na). Les rayons X sont produits par un tube de Coolidge constitué d’une anticathode de Rhodium (Imax = 125 mA, Vmax = 60 kV) et contrôlés par des filtres placés entre le tube et l’échantillon (Al, à différentes épaisseurs).


Deux types de spectromètres existent : les spectromètres dispersifs en longueur d’onde et les spectromètres dispersifs en énergie. Les spectromètres dispersifs en longueur d’onde (WDXRF) s’appuient sur la méthode consistant à séparer, par diffraction sur un monocristal, les photons de rayonnement X émis par chaque élément contenu dans un échantillon irradié, avant de les compter. Cette méthode est plus sensible et résolue pour les éléments légers (Z<20). La méthode utilisée pour les spectromètres dispersifs en énergie (EDXRF) consiste dans la détection simultanée des rayons X émis par tous les éléments contenus dans un échantillon par un solide semi-conducteur Si(Li). Cette méthode permet d’accéder rapidement au spectre complet avec une intensité de courant et un temps d'irradiation moindres que ceux nécessaires pour la dispersion en longueur d’onde. Elle est également plus efficace pour les éléments lourds.

 

- Objectifs : Analyse quantitative d’éléments majeurs et mineurs dans les aérosols, dépôts atmosphériques, sols et végétaux.

 

- Echantillons traités : échantillon d’aérosols et dépôts atmosphériques sur membranes en polycarbonate ; perles de sols ; pastilles de dépôts, sols et végétaux.    

 

- Liens utiles :
        -    Plateforme Prammics : https://osu-efluve.u-pec.fr/recherche/plateformes/prammics-plateforme-regionale-d-analyse-multi-milieux-des-micro-contaminants

 

- Publications :
Chloe Chive, Lydie Martίn-Faivre, Alice Eon-Bertho, Christelle Alwardini, Jéril Degrouard, Alexandre Albinet, Gael Noyalet, Servanne Chevaillier, Franck Maisonneuve, Jean-Michel Sallenave, Stéphanie Devineau, Vincent Michoud, Ignacio Garcia-Verdugo, Armelle Baeza-Squiban, Exposure to PM2.5 modulate the pro-inflammatory and interferon responses against influenza virus infection in a human 3D bronchial epithelium model, Environmental Pollution, 348, 123781, https://doi.org/10.1016/j.envpol.2024.123781, 2024
Thomas Audoux, Benoit Laurent, Karine Desboeufs, Gael Noyalet, Franck Maisonneuve, Olivier Lauret, Servanne Chevaillier, Intra-event evolution of elemental and ionic concentrations in wet deposition in an urban environment, Atmos. Chem. Phys., 23, 13485-1350, https://doi.org/10.5194/acp-23-13485-2023, 2023
Thomas Audoux, Benoit Laurent, Servanne Chevaillier, Anais Feron, Edouard Pangui, Franck Maisonneuve, Karine Desboeufs, Sylvain Triquet, Gael Noyalet, Olivier Lauret, Florian Huet, Automatic sequential rain sampling to study atmospheric particulate and dissolved wet deposition, Atmospheric Environment, 295, https://doi.org/10.1016/j.atmosenv.2022.119561, 2023